Hallffektmålingsutstyr - DX -100

Presisjonstesting for halvledermaterialer

DeDx -100 Hall effekt måleutstyrer et system med høy ytelse konstruert for å måle kritiske elektriske parametere for halvledermaterialer. Utstyrt med en avstembar elektromagnet som kan nå magnetfelt opp til2 Tesla, og støtte en bredtemperaturområde på 80–500 k, Dette systemet er ideelt for avansert forskning og industrielle applikasjoner.

Viktige funksjoner

Kraftig magnetfelt: Tunable Electromagnet, maks magnetfelt av2T.
Bredt temperaturområde: StøtterTre temperatursoner, fra80 K til 500 K.
Integrert design: Strømlinjeformet oppsett og forenklet drift.
One-Button Operation: Helt automatisk måling med programvaredrevet kontroll.

Parametere for DX -100 Hall Effekt Måleutstyr

Fysiske parametere	Bærerkonsentrasjon	10³cm⁻³ - 10 ²³cm⁻³
	Mobilitet	0 .1 cm²/ voltsek - 10 ⁸cm²/ voltsek
	Resistivitetsområde	10⁻⁷ ohmcm - 10 ¹² ohmcm
	Hall spenning	1 UV - 3 v
	Hall -koeffisient	10⁻⁵ - 10 ²⁷cm³/ c
Testbar materialtype	Halvledermateriale	Sige, SiC, Inas, IngaaS, INP, Algaas, HGCDTE og ferrittmaterialer osv.
	Lavt motstandsmateriale	Grafen, metaller, gjennomsiktige oksider, svakt magnetiske halvledermaterialer, TMR -materialer, etc.
	Høyt motstandsmateriale	Semi-isolerer Gaas, GaN, CDTE, etc.
	Materiale ledende partikler	Type P og Type N -testing av materialer
Magnetfeltmiljø	Magnettype	Variabel elektromagnet
	Størrelsen på magnetfeltet	1900mt (polet tonehøyde er 10mm) 1300mt (polet tonehøyde er 20mm) 900mt (polet tonehøyde er 30mm) 800mt (polet tonehøyde er 40mm) 600mt (polet tonehøyde er 50 mm)
	Ensartet område: 1%	Minimum oppløsning: 0. 1GS
	Valgfritt magnetisk miljø	Elektromagnet av relevant magnetisk størrelse kan tilpasses i henhold til kundenes behov
Elektriske parametere	Gjeldende kilde	50. 00 na - 50. 00 ma
	Gjeldende kildeoppløsning	0. 0001Ua
	Målingsspenning	0 ~ ±3V
	Spenningsmålingsoppløsning	0. 0001 mv
Annet tilbehør	Skyggelegging	Eksternt alliert installert lysskjermet deler gjør testmaterialet mer stabilt
	Prøvestørrelse	Normal 10mm * 10mm Maksimalt 16mm * 16mm
	Boksskap	6006001000mm
	Teststykke	Hall Effect of Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences Standard Test -prøver og data: 1 sett (Si, GE, Gaas, LNSB)
	Å lage ohmiske kontakter	Elektrisk loddejern, indiumbrikke, lodde, emaljert ledning, etc.
Enknapp automatisk måling kan utføres uten behov for menneskelig drift etter at testen er startet
Programvaren kan utføre IV -kurve og BV -kurve
Angi programvare for automatisk temperaturmåling
De eksperimentelle resultatene måles, og dataene vil lagres midlertidig i programvaren. Hvis det kreves langvarig lagring, kan dataene eksporteres til en Excel-tabell for å lette senere databehandling.
Gi Hall Effect Standard Test -prøver og data fra Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences: 1 Set

Testbare prøver av måling av hallens effekt:

Testable samples of HEMS

Høyt og lavt temperaturvalg av måleeffektutstyr

Systemmodell	Teststemperatursonen	Systemtestindeks
DX -100 Høyt og lavtemperatur Hall -effekttestsystem	8 0 k ~ 500k (høy og lav temperatur, temperaturjustering 0,1K)	Minimum oppløsning: 0. 1GS Eksempelstrøm: {{0}}. 05Ua -50 ma (juster 0.1na) Magnetfelt: 2T ved 10 mm avstand; 1t på 30 mm avstand Resistivitetsområde: 10-5-107 ohmcm bærerkonsentrasjon: 103-1023 cm -3 Mobilitet: 0. 1-108 cm2/voltsek Motstandsområde: 10m ohm -6 mohms
DX -100 H Høytemperatur Hall Effekt Testsystem	3 0 0k - 500 k (høy temperatur, temperaturjustering 0.1k)
Dx -100 l lavtemperatur Hall effekt testsystem	8 0 k - 300 k (lav temperatur, temperaturjustering 0.1k)
Dx -200 l lavtemperatur Hall effekt testsystem	4k - 300 k (lav temperatur, temperaturjustering 0. 1K)
DX -500 Høyt og lavtemperatur Hall -effekttestsystem	8 0 k ~ 800k (høy og lav temperatur, temperaturjustering 0,1K)
DX -500 H Høytemperatur Hall Effekt Testsystem	3 0 0 K ~ 800 K (høy temperatur, temperaturjustering 0.1K)

Lever, frakt og servering

Vi tilbyr frakt via maritime, antenne og ekspressleveringskanaler. Våre fraktløsninger imøtekommer forskjellige behov, slik at kunder kan velge det mest passende alternativet i henhold til deres spesifikke krav. Målet vårt er å oppfylle forventningene ved å levere kostnadseffektivt og omgående.

Ved siden av våre mangfoldige frakttjenester legger vi betydelig vekt på å levere eksepsjonell kundeservice. Vårt dedikerte team er fortsatt lett tilgjengelig for å tilby rettidige og relevante oppdateringer angående forsendelsen din, og sikrer at du holder deg informert gjennom hele prosessen.

FAQ

Spørsmål: Hva er temperaturområdet som støttes av Hall Effect Testing System?

A: Halleffekttestingssystemet støtter typisk et temperaturområde fra romtemperatur til flere hundre grader,

Spørsmål: Hvor mange prøver kan systemtesten samtidig?

A: Antall prøver som kan testes samtidig, avhenger av systemets konfigurasjon og utformingen av prøveholderen. Generelt kan systemet teste flere prøver samtidig, typisk fra 4 til 8.

Spørsmål: Kan systemet utføre Hall -effekttesting ved forskjellige temperaturer?

A: Ja, høye og lavtemperatur Hall-effekttestingssystemer har vanligvis temperaturkontrollfunksjoner, slik at testing kan utføres ved forskjellige temperaturforhold, alt fra romtemperatur til høye eller lave temperaturer.

Spørsmål: Hvordan sikres nøyaktigheten og repeterbarheten til testresultatene?

A: Nøyaktigheten og repeterbarheten til testresultater avhenger av systemets presisjon, kalibrering og operatørens ferdighetsnivå. Systemet gjennomgår vanligvis grundig kalibrering, og driftsprosessen må følge strenge standard driftsprosedyrer for å sikre nøyaktigheten og repeterbarheten av resultatene.

Spørsmål: Hva er driftsprosedyren for Hall Effect -testsystemet?

A: Driftsprosedyren inkluderer typisk prøveforberedelse, sette opp testparametere, starte testen, registrere og analysere data, blant andre trinn. Den spesifikke driftsprosedyren vil avhenge av systemets design- og programvarefunksjonaliteter, vanligvis beskrevet i brukerhåndboken eller driftsguiden.

Populære tags: Halleffektmålingsutstyr, halvledertestingssystem, DX -100 Hallsystem, Hall Effektmåler, bærermobilitetstester, resistivitetsmåling, Hall -koeffisientmåling, høy og lav temperatur Hall -testing, Hall Effect Semiconductor Analyse, Lab Hall Testing System, 2T Magnetic Field Hall Setup

Hallffekt Måleutstyr